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日本日置HIOKI3535 LCR测试仪,3535 LCR测试仪
HIOKI3535 LCR测试仪
日本日置HIOKI3535 LCR测试仪,3535LCR测试仪是日本日置生产的LCR测试仪,HIOKI 3535 LCR测试仪元器件测量,HIOKI3535 LCR测试仪可以高速LCR仪,采样率可高至120MHz
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试,3532-50 LCR测试仪
HIOKI3532-50 LCR测试仪
HIOKI3532-50 LCR测试仪 HIOKI3532-50 LCR测试仪是日本日置生产的LCR测试仪,HIOKI3532-50 LCR测试仪元器件测,HIOKI3532-50 LCR测试仪搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
日本日置3511-50 LCR测试仪,HIOKI3511-50 LCR测试仪
3511-50 LCR测试仪
HIOKI3511-50 LCR测试仪是日本日置生产的LCR测试仪,HIOKI 3511-50 LCR测试仪器件测量,HIOKI 3511-50LCR测试仪精巧,非常专业,5ms快速测量LCR,高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
日本日置HIOKI3504电容测试仪,hioki3504-10电容测试仪
3504/ 3504-10电容测试仪
HIOKI3504电容测试仪,hioki3504-10电容测试仪是日本日置生产的电容测试仪C测试仪 3504/ 3504-10元器件测量C测试仪 3504/ 3504-10,3504/ 3504-10电容测试仪可以封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,最多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
日本日置HIOKI3501电容测试仪
HIOKI3501电容测试仪
日本日置HIOKI3501电容测试仪电容测试仪 3501元器件测量,C测试仪 3501,电容测试仪 3501是16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围,单按键操作
日本日置HIOKI3158交流耐压测试仪
HIOKI3158交流耐压测试仪
日本日置HIOKI3158交流耐压测试仪是日本日置生产的交流耐压测试仪,交流耐压测试仪HIOKI3158简单实现以各种安全标准为基础的测试,适应各种安全标准测试(5kV/500VA) ,通过电流比较器,带合格判定以及定时功能
日本日置HIOKI3156泄漏电流测试仪
HIOKI3156泄漏电流测试仪
日本日置HIOKI3156泄漏电流测试仪,泄漏电流测试仪HIOKI3156是日本日置生产的泄漏电流测试仪,泄漏电流测试仪HIOKI3156自动兼容IEC/UL/JIS标准规定的网络
可进行电气安全必要的泄漏电流测量
MFG-8219A信号发生器/MFG-8255A信号发生器
MFG-8219A信号发生器/MFG-8255A信号发生器
MFG-8219A信号发生器/MFG-8255A信号发生器 ,MFG-8219A信号发生器单价:1600元/MFG-8255A信号发生器单价:1800元,
台湾固纬 GWinstek GAG-809音频信号产生器
GAG-809音频信号产生器
台湾固纬 GWinstekGAG-809音频信号产生器单价:GAG-809音频信号产生器特性:频率范围:10Hz ~ 1MHz
台湾固纬 GWinstek GAG-810G音频信号产生器
GAG-810G音频信号产生器
台湾固纬 GWinstek GAG-810G音频信号产生器 GAG-810G音频信号产生器特性:频率范围:10Hz ~ 1MHz
GOM-801H微欧姆电阻表、GOM-801G微欧表,GOM-801H微电阻表
GOM-801H微电阻表
台湾固纬 GWinstek GOM-801H微欧姆电阻表GOM-801H微欧姆电阻表量测范围:20mΩ~ 20kΩ共 7 档、GOM-801G微欧表,GOM-801H微电阻表,
台湾富贵ELC-3133A LCR测试仪
ELC-3133A LCR测试仪
台湾富贵ELC-3133A LCR测试仪双显示,ELC-3133A LCR测试仪的商品描述参数包含有 L/C/R/D/Q/θ:ELC-3133A 台式LCR表功能及特点自动/手动量程可选择
台湾固纬 GWinstek LCR-821高精密LCR测试仪
LCR-821高精密LCR测试仪
台湾固纬 GWinstek LCR-821高精密LCR测试仪0.1% 高量测准确度,LCR-821高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能,LCR-821高精密LCR测试仪绝对值, 差异值(Δ), 差异百分比(Δ%)显示
台湾固纬 GWinstek LCR-819高精密LCR测试仪
LCR-819高精密LCR测试仪
台湾固纬 GWinstek LCR-819高精密LCR测试仪测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点,LCR-819高精密LCR测试仪0.05% 高量测准确度,LCR-819高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能,LCR-819高精密LCR测试仪选别机介面 (LCR-826/827/829)
LCR-829高精密LCR测试仪
LCR-829高精密LCR测试仪
LCR-829高精密LCR测试仪测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点,LCR-829高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能,LCR-829高精密LCR测试仪测试条件及测试结果同时显示在萤幕上,LCR-829高精密LCR测试仪选别机介面 (LCR-826/827/829)
台湾固纬 GWinstek LCR-817高精密LCR测试仪
LCR-817高精密LCR测试仪
LCR-817高精密LCR测试仪测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点,LCR-817高精密LCR测试仪0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819),LCR-817高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能,LCR-817高精密LCR测试仪
台湾固纬 GWinstek LCR-827高精密LCR测试仪
LCR-827高精密LCR测试仪
LCR-827高精密LCR测试仪 测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点,LCR-827高精密LCR测试仪0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829),LCR-827高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能,LCR-827高精密LCR测试仪R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式
台湾固纬 GWinstek LCR-816高精密LCR测试仪
LCR-816高精密LCR测试仪
台湾固纬 GWinstek LCR-816高精密LCR测试仪测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点,LCR-816高精密LCR测试仪绝对值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示,LCR-816高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能,LCR-816高精密LCR测试仪
台湾固纬 GWinstek LCR-826高精密LCR测试仪
LCR-826高精密LCR测试仪
台湾固纬 GWinstek LCR-826高精密LCR测试仪测试频率:12Hz ~ 100kHz, 503 点,LCR-826高精密LCR测试仪0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829,LCR-826高精密LCR测试仪100 组设定条件记忆储存、呼出功能
,LCR-826高精密LCR测试仪
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