台湾固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试器说明：
台湾固纬 GWinstek GUT-6000A数位IC测试器
GUT-6000A数位IC测试器特性：
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
最大可测 Pin 数 : 28 Pin
GUT-6000A数位IC测试器详细介绍
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规 格 |
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测试范围 |
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
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4000 及 4500 系列 CMOS |
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55 及 75 系列 TTL |
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量测种类 |
约 1800 种 |
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测试电压 |
5V DC |
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测试时间 |
高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC |
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使用电源 |
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
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附件 |
电源线 x 1, 操作手册 x 1 |
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尺寸及重量 |
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤 |
固纬IC测试仪选型表
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机 种 |
主要功能或用途 |
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GUT - 6000A |
数位IC测试器 |
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GUT - 6600 |
掌上型数位IC测试器 |
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GUT - 6001 |
类比IC测试器 | |
