日本日置HIOKI3535 LCR测试仪，3535 LCR测试仪 说明：
LCR测试仪 3535是日本日置生产的LCR测试仪，LCR测试仪3535元器件测量
LCR测试仪 3535可以高速LCR仪，采样率可高至120MHz
- 100kHz～120MHz的宽频带
- 高速LCR测试（6ms/采样）
- 拆卸式前置放大器可选择
- 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
LCR测试仪 3535基本参数
| 测量参数 |
|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ) |
前置放大器
决定的测量量程 |
| 前置放大器 |
9700-01 |
9700-02 |
9700-03 |
| Z和R |
100mΩ～1kΩ |
500Ω～10kΩ |
5kΩ～100kΩ |
| C |
1.33pF～15.9μF |
0.133pF～3.18nF |
0.1pF～318pF |
| L |
1nH～1.59mH |
663nH～15.9mH |
6.63μH～159mH |
| θ |
-180.00°～180.00° | | |
| 测量频率 |
| 量程 |
100kHz～120MHz |
| 分辨率设置 |
4位（使用前控制板设置） |
| 100.0kHz～1.000MHz |
100Hz幅度 |
| 1.000MHz～10.00MHz |
1kHz幅度 |
| 10.00MHz～100.0MHz |
10kHz幅度 |
| 100.0MHz～120.0MHz |
100kHz幅度 |
| 使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。 |
| 精度 |
最大 ± 0.005%，相对于设置值 | | |
| 测量电平 |
开路接口电压（V）
和恒压（CV）模式 |
5mV～1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV～500mV,最大10mA（10.01MHz以上） |
| 分辨率 |
1mV幅度 |
| 精度 |
±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz数) |
| 恒流（CC）模式 |
200μA～20mA,最大1V（10.00MHz以下）
200μA～10mA,最大0.5V（10.01MHz以上） |
| 分辨率 |
10A幅度 |
| 精度 |
±（10%+50μA）× (2+log f)(f为MHz数) | | |
| 基本精度 |
Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3° |
| 输出阻抗 |
50Ω ± 10Ω（100kHz时） |
| 监视 |
电压 0.000V～1.000V
电流 0.000mA～20.0mA |
| 限制 |
电压（设置为CC） 0.005V～1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA |
| 平均 |
关，2，4，8，16，32，64 |
| 触发 |
内置触发器，外置触发器
触发延时 0.01s～9.99s；0.01s分辨率 |
| 比较 |
可得到两组测量参数：百分比，△%，或绝对值设置（△%即显示测量值与标准值的偏差） |
| 控制盘存储和调用 |
最多30组 |
| 屏幕显示 |
测量值和比较器的判断结果 |
| 显示线数 |
可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同 |
| 打印 |
拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 |
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) |
| 操作环境 |
10～40°C，最大80%rh，无凝结 |
| 仓储环境 |
-10～55°C，最大80%rh，无凝结 |
| 供电电源 |
交流100V～240V，50/60Hz，约50VA |
| 体积及重量 |
约360宽×130高×360厚（mm）；8.3kg |
不能单独使用, 测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头
前至放大放大单元 9700-10：测量范围: 100mΩ～300kΩ
SMD测试冶具 9677：工作频率: DC～120MHz
测量对象尺寸: 3.5±0.5mm, 与3535组合使用时，无CE标记
SMD测试冶具 9699：工作频率: DC～120MHz
测量对象尺寸: 宽1.0～4.0mm, 高1.5mm以下
连接电缆 9678：电缆长: 2m
GP-IB连接电缆 9151-02：线长: 2 m
GP-IB连接电缆 9151-04：线长: 4 m | 
