日本日置HIOKI3504电容测试仪,hioki3504-10电容测试仪说明：
HIOKI3504电容测试仪,hioki3504-10电容测试仪是日本日置生产的电容测试仪，C测试仪 3504/ 3504-10元器件测量
C测试仪 3504/ 3504-10
3504/ 3504-10电容测试仪可以封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
可选定测量电压
触发同步测量
不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
3504/ 3504-10电容测试仪基本参数
| 测量参数 |
Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan） |
| 测量范围 |
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000 |
| 基本確度 |
（代表値）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各係数 |
| 测量频率 |
120Hz, 1kHz |
| 测量信号电平 |
恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz）
CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz）
CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz）
CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）
信号电平精度 ±10% ± 5 mV |
| 输出电阻 |
5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外） |
| 显示 |
发光二级管 |
| 测量时间 |
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 機能 |
BIN 分选测量功能（仅限于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（仅限于3504） |
| 电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 体积及重量 |
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 |
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |
不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
相位同期功能(特殊式样)
同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。 |
