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便携式现场PID测试仪（电位诱发衰减）测试仪，适用于不同类型和尺寸的晶体硅组件，无需拆装，测试时间在8小时之内（测量时间将少于8小时）。PIDcheck是与德国Fraunhofer CSP Halle合作开发的。